IC電磁發(fā)射測(cè)試系統(tǒng)特點(diǎn)：
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IEC61967-6磁場(chǎng)探頭法是通過(guò)測(cè)試PCB板導(dǎo)線(xiàn)上的電流來(lái)評(píng)定集成電路的電磁發(fā)射。
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芯片引腳通過(guò)PCB板上的導(dǎo)線(xiàn)與電源或外圍電路相連，因而它產(chǎn)生的射頻電流可用一個(gè)靠近的磁場(chǎng)探頭獲取，由電磁感應(yīng)定律，探頭輸出端的電壓正比于導(dǎo)線(xiàn)上的射頻電流。
IC電磁發(fā)射測(cè)試系統(tǒng)詳細(xì)說(shuō)明：
依據(jù)IEC 61967-6的IC電磁發(fā)射測(cè)試系統(tǒng)
傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量方法——磁場(chǎng)探頭法
IEC61967-6磁場(chǎng)探頭法是通過(guò)測(cè)試PCB板導(dǎo)線(xiàn)上的電流來(lái)評(píng)定集成電路的電磁發(fā)射。芯片引腳通過(guò)PCB板上的導(dǎo)線(xiàn)與電源或外圍電路相連，因而它產(chǎn)生的射頻電流可用一個(gè)靠近的磁場(chǎng)探頭獲取，由電磁感應(yīng)定律，探頭輸出端的電壓正比于導(dǎo)線(xiàn)上的射頻電流。磁場(chǎng)探頭的結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)和推薦尺寸在標(biāo)準(zhǔn)中有詳細(xì)描述，測(cè)試示意圖如下所示：
全套測(cè)試系統(tǒng)，由以下幾個(gè)部分組成：
標(biāo)準(zhǔn)對(duì)頻譜儀或接收機(jī)的要求：
·頻率范圍覆蓋150kHz-1GHz
·峰值檢波、帶*大值保持功能
·分辨率帶寬的設(shè)置如下表：
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測(cè)量?jī)x器
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頻段
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150kHz－30MHz
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30MHz－1GHz
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頻譜分析儀（3dB）
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10kHz
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100kHz
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接收機(jī)（6dB
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9kHz
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120kHz
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R&S® ESL EMI測(cè)試接收機(jī)，是一臺(tái)能依據(jù)*新標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行電磁干擾測(cè)試的EMI接收機(jī)，同時(shí)也是一臺(tái)全功能的頻譜分析儀。
ESL3 EMI測(cè)試接收機(jī)，完全符合IEC 61967-4標(biāo)準(zhǔn)要求，同時(shí)還能對(duì)設(shè)備級(jí)產(chǎn)品進(jìn)行電磁兼容預(yù)測(cè)試。
2．測(cè)試電路板
對(duì)集成電路的EMC測(cè)試，被測(cè)IC需要安裝在一塊印制電路板上，為提高測(cè)試的方便性與重復(fù)性，標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電路板的規(guī)格，標(biāo)準(zhǔn)電路板的大小與TEM小室頂端的開(kāi)口大小匹配。
GND22-04測(cè)試電路板，完全依據(jù)集成電路電磁兼容測(cè)試要求設(shè)計(jì)，由下列部件構(gòu)成：
·測(cè)試板
·GND平面GND22-04
·連接板CB 0706
·IC適配器
·控制單元
3．Probe 1601H-場(chǎng)探頭以及Probe 1701E-場(chǎng)探頭
IC H-場(chǎng)探頭Probe 1601
Probe 1601，用于近場(chǎng)測(cè)量IC產(chǎn)生的磁場(chǎng)，具有50歐姆輸入，可連接磁場(chǎng)環(huán)（H-field loop），磁場(chǎng)環(huán)是可旋轉(zhuǎn)的，高度可調(diào)節(jié)。探頭的50歐姆輸出接口，可連接頻譜分析儀或者EMI測(cè)試接收機(jī)。
近場(chǎng)測(cè)量通過(guò)IC的電場(chǎng)。用探頭測(cè)量到的電壓是對(duì)IC發(fā)射的測(cè)量，它被電場(chǎng)（E-場(chǎng)）激勵(lì)。
探頭的RF電壓參數(shù)是帶有集成前置放大器，輸入電阻為1.5 kΩ。輸入連接到一個(gè)25 x 25 mm 的測(cè)量電極收集電場(chǎng)信號(hào)。耦合面高度可調(diào)可轉(zhuǎn)換。
